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Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited
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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

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Chine Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited certifications
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Chère Alice, Les machines fonctionnent bien maintenant. Merci de votre appui et patience résoudre nos problèmes et nous donner des suggestions très utiles dans la négociation. Vraiment une bonne coopération.

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J'envoie cet email pour vous faire savoir que nous recevons les 2 navires avec le certificat de calibrage. Je voudrais vous remercier de la qualité des navires et de votre bon travail. Je ne peux pas attendre pour travailler avec vous sur d'autres sujets.

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Nous pouvons confirmer qu'il fonctionne très bien! merci pour l'équipement de qualité.

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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Image Grand :  Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Détails sur le produit:
Lieu d'origine: CHINE
Nom de marque: Pego Electronics
Certification: Third-Lab Calibration Certificate
Numéro de modèle: PG-TPB
Conditions de paiement et expédition:
Quantité de commande min: 1 set
Prix: Négociable
Détails d'emballage: étui de protection + carton
Délai de livraison: 3 jours ouvrables
Conditions de paiement: T / t, paypal
Capacité d'approvisionnement: 1000pc / mois
Contact
Description de produit détaillée
Conforme à la norme: La valeur de l'échantillon doit être déterminée en tenant compte de l'état de l'échantillon et de l' Matériel: matériau isolant (main) et métal (doigt)
Délai de mise en œuvre: 3 jours ouvrables Application: pour vérifier l'accessibilité aux pièces dangereuses
Taper: sonde d'accès Propulseur: Nombre d'échantillons
Mettre en évidence:

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

,

80±0.2 Length Standard Test Finger

,

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N
Standard Test Finger for Accessibility Test
Introduction
The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.
Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.
Specification
Model PG-TPB
Jointed point size 1 30±0.2
Jointed point size 2 60±0.2
Length of finger 80±0.2
Fingertip to baffle size 180±0.2
Fingertip taper fillet S4±0.05
Diameter of finger Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle Ф75±0.2
Thickness of baffle 5±0.5
A-A section diameter Ф50
A-A section width Ф20±0.2
Thruster 10N optional
Standard IEC61032
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing 0

Produit Tag:

Essai de sonde de doigt,

l'UL a articulé la sonde de doigt,

doigt d'essai d'UL

Coordonnées
Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited

Personne à contacter: Ms. Penny Peng

Téléphone: +86-18979554054

Télécopieur: 86--4008266163-29929

Envoyez votre demande directement à nous (0 / 3000)

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